涂层测厚仪测量值精度的影响因素有哪些？-发七人商城(faqiren.com)

涂层测厚仪测量值精度的影响因素有哪些？

摘自：发七人商城 | 2021-07-30 | 作者：Faqiren

文章摘要：

涂层测厚仪常用来检测涂层的厚度，是评价涂层质量指标的重要仪器，但是在使用的过程中，如果不按照相应的规范进行操作，就会影响测量结果的准确性。本文为大家介绍了影响涂层测厚仪测量值精度的因素，感兴趣的朋友可以看看。

影响涂层测厚仪测量值精度的因素：

（1）基体金属磁性质。

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可用待涂覆试件进行校准。

（2）基体金属电性质。

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。

使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

（3）基体金属厚度。

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

（4）边缘效应。

仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此，在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

（5）曲率。

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

（6）试件的变形。

测头会使软覆盖层试件变形，因此，在这些试件上测出的数据不可靠。

（7）表面粗糙度。

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度越大，影响越大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

（8）周围磁场。

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

（9）附着物质。

（10）测头压力。

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

（11）测头的取向。

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直，这是使用仪器时应当遵守的规定。

（12）读数次数。

通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此。

（13）表面清洁度。

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

涂层测厚仪的维护使用注意事项：

1.测厚仪要保持清洁，不要摔落，避免与潮湿、具有化学腐蚀性的物质或气体接触。

2.使用完毕，应把仪器放回具有保护性和便于挪动的盒子中。

3.温度的剧烈变化将影响测量结果，所以不能把仪器直接暴露在强烈的阳光下或温度骤变的环境中。

4.不能使用化学物质擦洗仪器。要定期检查探针，清理探针上残留的污物。

5.仪器长期不用时，要取出电池。

文章标签：涂层测厚仪

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